• <rt id="oagwg"></rt>
    <rt id="oagwg"><center id="oagwg"></center></rt>
    <acronym id="oagwg"><small id="oagwg"></small></acronym>
    <rt id="oagwg"></rt>
    失效分析系統

    通過微弱的光發射和熱發射來定位半導體器件上失效缺陷位置的顯微鏡成像系統。

    加入對比 共 4 件產品
    產品圖像 產品型號 產品名稱
    產品圖像: 產品型號:C11222-16 產品名稱:PHEMOS-1000 微光顯微鏡
    產品圖像: 產品型號:C10506-06-16 產品名稱:iPHEMOS-MP倒置光發射顯微鏡
    產品圖像: 產品型號:C14229-01 產品名稱:Thermal-F1 熱發射顯微鏡
    產品圖像: 產品型號:C10506-05-16 產品名稱:iPHEMOS-DD倒置光發射顯微鏡
    請聯系我們獲取更多信息
    • 資料索取
    • 價格咨詢
    • 產品貨期
    • 產品定制
    • 演示申請
    • 樣品申請
    • 技術支持
    • 其他

    產品信息|應用領域|技術支持|新聞活動|濱松中國

    Copyright © Hamamatsu Photonics (China) Co.,Ltd. All Rights Reserved.

    京ICP備12001255號 京公網安備11010502026391

    AV天堂最新手机网址 女优日批影片下载| 色天堂先锋| 国产高清免费g一本视频| 2019天堂网影音先锋| 都市激情校园春色家庭| 色中色v∧免费观看| 俺也去五月影音先锋| av天堂2016在线观看| 国产 自拍 制服| 日本AV女优影片| 日本AV女优中文字幕97S| 韩国午夜理论免费国产自拍| 212影视伦理日本女优四十路黄页| 淫色图| www.日本色图| 欧美色日本| 亲胸一边膜下刺激视频| www.236zhaizhai.com| 深田破解无修正| av2018在线| av女优成人电影|